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射頻集成電路測試系統(tong)是專為满足射頻(pin)集成電路性能指標的全面檢測而設計的綜合測試解決方案。该(gai)系(xi)統以PXIe总(zong)線儀(yi)器為核心主體構建，集成了射頻(pin)、数(shu)字、源測量(liang)等多種測試(shi)资源，形成了集成度高、功能齊(qi)全的集成電路(lu)綜合測試平臺，能够應對射頻芯片研发和生產過程中(zhong)的各類測試需(xu)求。 系統具有開放式的系統體系架構設計，灵活適用(yong)於集成電路設計驗證、產線測試、入廠复檢等不同應用(yong)場景，為企業提(ti)供贯穿研发到生產全流程(cheng)的測試支持。