產品綜述
Hqscm 3674系列(lie)矢量網絡分析儀针對現代電子產業對(dui)測量精度的嚴苛要求而研发，可(ke)以應對半导(dao)體芯片測試、材料測(ce)試(shi)、天線測(ce)試(shi)、高速線缆(lan)測試、微波部組件測試(shi)等多個應(ying)用领域带來的挑战。该系列(lie)儀器凭借出色的射頻(pin)特性、灵活的硬件配置和豐富的软件(jian)功能的有機(ji)結合，用戶只需一次连接即(ji)可完成多種測量任務(wu)，大幅提升測試工作效率。在人機交互設(she)計上進行(xing)了创新優化，可帮助測試人員快速便捷地完成所需的測量設(she)置與參数調(diao)整。
功能特點
-
脉冲S參数測量
儀器内(nei)置4路脉冲发生器，可用於内部源(yuan)調製(zhi)、中頻門控製等應用場景，並通過后面板進行信號輸出。
源調製來源包括后(hou)面板輸入、内部脉冲发生器和常開、常闭等多(duo)種状態，既可利用外部脉冲對矢量網(wang)絡分析儀(yi)的源進行調製，也可以使其(qi)處(chu)於连續波状態，通過(guo)触发同步(bu)模式進行測量，為T/R組件、天線收发模块等測試提(ti)供有(you)力支撐。
-
混頻器/變頻器標量測量分析
提供完善的混(hun)頻器/變頻器特性設置，支持雙阶本振、外部本振源輸入(ru)；支持線性掃、功率掃、段(duan)掃等多種掃描類型；通過簡單設置(zhi)可自動完成复雜混頻器RF、雙LO、IF之間倍頻、分頻(pin)等(deng)特性計算；支持源端口功(gong)率、本振端口功率、衰减、功率掃特(te)性設置(zhi)等。
-
混頻器/變頻器矢量測量分析
在混頻器與變(bian)頻(pin)器的性能評估领域，我們提供完整的幅度響應、絕對相位及絕對時延響應測(ce)量能(neng)力。為確保測量精度，校準過程中采用了雙混頻器(qi)架構來實現參(can)考通路變頻與校準通路的變頻功能。
單次连接即可完成混頻器/變頻器复数特性測量，幅度和相位測量精度高。
-
增益壓縮測量
增益壓縮測(ce)量功能能够通過一次连接、一次校準完成有源器件在(zai)工作頻带内的線性增益、壓縮點(dian)增益(yi)、壓縮點輸(shu)入功率、壓縮(suo)點輸出功(gong)率、線(xian)性輸入匹配等壓縮參数測量。
-
增益壓縮掃描三維圖绘製
提供(gong)三維(wei)視圖功能，更好地展示被測件(jian)在激勵状態下的工作性能，另外還可以展示頻(pin)率切面和功率切面，可以直(zhi)觀展現被(bei)測件在每個頻率點和每個功率點的特性。
-
噪聲系数測量
在微波射頻測試领域，一次连接即可同時完成S參数、噪(zao)聲系数、噪聲參数、增益壓縮和變頻增益等多種關键參数的測試。该系統采用冷源噪聲系数測試(shi)方法學，能够進行精確的(de)噪聲系数和噪聲參数(shu)測試，特別適用於(yu)低噪(zao)聲放大器、混頻器等模(mo)块的性能(neng)評估。通過構建先進的噪聲相關矩阵模(mo)型(xing)，結合矢量網(wang)絡分析儀提供的(de)精密S參数校準(zhun)能力(li)，確(que)保了對小噪聲系(xi)数被測件的測試精度。
-
頻谱測量分析
矢量網絡分析儀的每個端口都(dou)可以完成被測件的輸入谱和輸出谱的測(ce)量，可在小的分辨(bian)率带宽下快速地定位被測件雜散谱和諧波的状(zhuang)態。
在有源器件(jian)的測試應(ying)用中，頻谱測量功能可提供更為豐(feng)富的測(ce)量參数支持。單臺儀(yi)器通過單次连接(jie)即可實現常規的S參数(shu)測試、雜散和諧波的定位測量等多(duo)項功能。完備(bei)的比值和絕對測量误差修正技術的應用(yong)，可以有效提供(gong)更加準確的測量(liang)結果，满足高精度測試需求。
-
信號完整性測量分析
在現代高速電子(zi)產(chan)品設計领域中，具備強大的信號完整性測試與分析能力已成為必(bi)要条件。本(ben)方案可提供微米級的空間分辨率，支持單一視圖(tu)同時(shi)完成時域和頻域測試分析，能(neng)够精準(zhun)測試傳輸線上阻抗特性的變化情况。
高(gao)級時域分析選件作為現代高速数字通信測(ce)試的重要工具，具備基於網(wang)絡參数的虚擬眼圖生成及分析功(gong)能。
-
总諧波失真（THD）測量分析
宽頻带測(ce)試，可用於真差分激勵下的輸入輸出功率、增益、諧波总(zong)失真等參(can)数的分析，簡(jian)化差分器件的諧波性能(neng)測試复雜度。
單(dan)次校準流程可同時完成多通道的误差修正(zheng)工作，通過(guo)XML文件方式對設置和測量參数進行灵活编輯，支持一键快速导入參数配置，大幅提(ti)升工作效率(lv)。
-
自動夹具移除
對於非(fei)標準接头器件測試，如封裝微波器件、在(zai)片器(qi)件等，此類器件(jian)无法與矢量網絡分析儀直接相连。通(tong)常使用夹具將被測件连接到矢量網(wang)絡分析儀上，但同時夹(jia)具也引入了測量误差。自動夹具移除功能可以進行夹(jia)具參数的提取(qu)、存储以及夹具去(qu)嵌入，最終获得被測件的真實參数。
-
極致的用戶體驗
界面簡洁直(zhi)觀，便於操作，提高(gao)測試(shi)效率
-
外設接口豐富，灵活實用
1-10MHz外參考輸入/輸出接口
2-110V/220V自適應電源輸入
3-可拆(chai)卸CPU模块，配置(zhi)硬(ying)盘、LAN、DP、USB、GPIB接口
4-激勵輸出、本振輸出等接口，提供灵活的測量配(pei)置，提供灵活的測量配(pei)置
5-外中頻輸入(ru)接口(kou)，脉冲輸(shu)入輸出接(jie)口
6-偏置T配置輸入接口
7-自動(dong)測試接(jie)口，触发輸(shu)入/輸出(chu)接(jie)口，噪聲源電源(yuan)接口(kou)
可拖動左右查看列表全(quan)部
|
型號 |
重量 |
功耗 |
温度範围 |
掃描模式 |
掃描驻留時間 |
對比 |
|---|
