產品綜述
Hqscm 3674系列矢量網絡分析(xi)儀在射頻測試领域的應(ying)用範围廣泛。该產品可用於半(ban)导(dao)體芯片測試、材料測試、天(tian)線測試、高(gao)速線缆測試、微波部組件測試等多個(ge)工業應用場(chang)景。 產品依托出色的射頻特性設計，搭载灵活的硬件配(pei)置方(fang)案，同時配備豐(feng)富(fu)的软件功能模块。这種硬件與软件的(de)有機結合，使用戶只需一次儀(yi)器连接即(ji)可完成多種不同類型的測量任務，大幅提升測試工作效率(lv)。 在用戶交互(hu)方面，该分析儀采用(yong)创新的人機交互設(she)計理念，帮(bang)助用戶快速便捷地完成各項測量設(she)置和參数配置工作。
功能特點
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脉冲S參数測量
設備内(nei)置4路独立脉冲发生器模块，專門用於内部源(yuan)調製、中頻門控製(zhi)等關键信號處理功能(neng)，並通過后(hou)面板接口輸(shu)出。
源調製來源包括(kuo)后面板輸入、内部(bu)脉冲发生器(qi)和常開、常(chang)闭等多種状態，既(ji)可利用外部(bu)脉冲對矢量網絡分析儀的源進行調製，也可以使其處於连續波状態，通過触发(fa)同步模式進行測量，為T/R組件、天線收发模块等測試提(ti)供有力支撐。
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混頻器/變頻器標量測量分析
提供完善的混頻器/變頻器特(te)性設置(zhi)，支持雙阶本(ben)振、外部(bu)本振源輸(shu)入；支持線性(xing)掃、功(gong)率掃、段(duan)掃等多種掃描類型；通過簡單(dan)設置可自動完成复雜混(hun)頻器RF、雙LO、IF之間倍頻、分(fen)頻等特性計算；支持源端口功率、本振端口功率、衰减、功率掃(sao)特性設置等(deng)。
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混頻器/變頻器矢量測量分析
在混(hun)頻器與變頻器的性(xing)能評估领域，系統(tong)提供了完整的幅度響應、絕對相位及絕對(dui)時延響應的測(ce)量能力，能够满足这類關键射頻組件(jian)的精密(mi)表征需求。校(xiao)準過程中采用雙混頻器架構，分別用於參考通路與校準通路(lu)的變頻功(gong)能。
單次连接即(ji)可完成混(hun)頻器/變頻器复数特性測量，幅度和相位測(ce)量精(jing)度高。
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增益壓縮測量
增益壓縮測量功能能够通過一次连接、一次校準完成有源器件(jian)在工作頻带内(nei)的線性增益、壓(ya)縮(suo)點增益、壓(ya)縮(suo)點輸入功率、壓縮點(dian)輸出功率、線性輸入匹配等壓(ya)縮參数測量。
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增益壓縮掃描三維圖绘製
提供(gong)三維(wei)視圖功能，更好地展示被測件在激勵状態下(xia)的工作(zuo)性能，另外還可以展示頻率切(qie)面和功率(lv)切面，可以直觀展(zhan)現被測件在每個(ge)頻率點和每個功率點的特性。
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噪聲系数測量
通過單次连接方式即可實現S參数、噪聲系数、噪(zao)聲參数、增益壓縮和變頻增益等多種關(guan)键指標的同(tong)步測試。该測試方案采用冷源噪聲系(xi)数測試方法學，能够實現精確的噪(zao)聲系数和噪聲參数測量(liang)，尤(you)其適用於微弱信(xin)號鏈路中的噪聲特性評估。系統構建了先進的(de)噪聲相關矩阵模(mo)型，並結合矢量網絡分析儀所具備的精密S參数校準能力，確(que)保對(dui)较小噪聲系数被測件的測試精度。
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頻谱測量分析
矢量網絡分析儀的每個端口都可以完成(cheng)被測件的輸入谱和輸出谱的(de)測量，可在小的分(fen)辨率带宽下快速地定位被測件雜散谱和諧(xie)波的状態。
针對有源器件的測試工作，頻谱測量功能可提供更多維度(du)的測(ce)量參数，支持單臺儀器通(tong)過單次连接即可實現常(chang)規的S參数(shu)測(ce)試、雜散和諧波的定位測量等多項(xiang)功能(neng)。
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信號完整性測量分析
具備(bei)強大(da)的信號完整性測量分析能力，可提供微米級(ji)的空間(jian)分辨率，满足現代高速電(dian)路設計中對信號質量的嚴格要求。單一視圖同時(shi)完(wan)成時域和頻域測試分析，能够精準測試傳輸線上阻抗特性的變(bian)化(hua)情况，帮助工程(cheng)師快速定位(wei)信號完整性問題。
高級時域分析選件是一款專門(men)针對高速数字通信领域的測(ce)試工具，具備基(ji)於網絡參数的虚(xu)擬眼圖生成及分析功能。
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总諧波失真（THD）測量分析
宽頻带測試，可用於真差分激勵(li)下的(de)輸入輸出功率、增益、諧波总失真(zhen)等參数的(de)分析，簡化(hua)差分器件的(de)諧波性能測試复雜度。
單次校準同時完成多通道的误差修正，支(zhi)持通過XML文(wen)件方式對設置和測量參数進行灵活编輯，實現一键參数导(dao)入功能，顯著提升工作效率。
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自動夹具移除
對於非標準接(jie)头器件測試，如封裝微波器件、在片器件等，此類器件(jian)无法與矢量網絡(luo)分析儀直接相连。通常使用夹(jia)具將被測件连接到矢量網絡分析儀上，但(dan)同時夹具也引入了測(ce)量误差。自動夹具移除功能可以進行夹具參数的提取、存储以及夹具去嵌入，最終获得被測(ce)件的真(zhen)實參数。
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極致的用戶體驗
界面簡(jian)洁直觀，便於操作，提高(gao)測試效(xiao)率
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外設接口豐富，灵活實用
1-10MHz外參考輸入/輸出接口
2-110V/220V自適應電源輸入
3-可(ke)拆卸CPU模(mo)块，配置硬盘、LAN、DP、USB、GPIB接(jie)口
4-激勵輸出、本(ben)振輸出等接口，提供灵(ling)活的測量配置，提供灵(ling)活的測量配置
5-外中頻輸入(ru)接口，脉冲(chong)輸入輸出接口
6-偏置T配置輸入接口
7-自動測試(shi)接口(kou)，触发輸入/輸(shu)出接口，噪聲源電源接口(kou)
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掃描驻留時間 |
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